皮膜厚さ試験　渦電流式測定法
使用装置	高周波膜厚計 LH-200　（株）ケツト科学研究所製
装置写真
試験規格	JIS H 8680-2
主な試験条件	膜厚計校正用素材：試料と材質・形状が同じ素材 　測定回数：各測定部につき5回以上
試験片	規定はありませんが、端や角部から15 mm以上離れた場所で測定するため、 　30mm角以上であることが望ましいです。
特徴	試料に渦電流が発生し、プローブに流れる電流が変化します。この変化量が試料とプローブの距離により異なることを利用して皮膜厚さを測定します。 　 　非破壊で測定ができます。 　ご依頼の際には、膜厚計校正用の素材のご提供をお願いします。 　試料の一部を切断し、皮膜を溶解することにより素地を調製することも可能です。 　（別途料金）
一般社団法人 軽金属製品協会　試験研究センター